「一歩先行く J-PlatPatを使った先行技術調査」セミナー終了のご報告|トピックス|オンダ国際特許事務所

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「一歩先行く J-PlatPatを使った先行技術調査」セミナー終了のご報告

2015年6月22日

 5月27日(名古屋)、6月3日(大阪)、6月11日(東京)の3日間にわたって開催した「一歩先行く J-PlatPatを使った先行技術調査」セミナーには、3会場あわせて182名の皆様にご参加をいただきました。ご多忙の中、足をお運びいただきました皆様、ありがとうございました。

 今回のセミナーは、事前課題としてセミナー前に設問をお知らせし、予め問題を解いてからご参加いただく、実践型のセミナーといたしました。セミナー当日は、これらの設問を取り上げ、特許調査の考え方や検索式の立て方を解説し、より特許調査に関する知識を深めていただけるよう留意いたしました。

 以下に、セミナー参加者の皆様からいただいた感想の一部をご紹介します。

グラフ

セミナーについてのご意見・ご感想(抜粋)

■自分の検索技術の現在地を知る事ができる貴重な機会となりました。事前演習付のセミナーは単に聴講するだけのセミナーより、はるかに有意義でした。
■FI、FTの対する理解が十分でなかったが、本セミナーによって検索に役立てる手法が示され、理解が深まった
■本セミナーは初心者にとっては非常に有用と思う。このセミナーに加えて、特許の基本知識(制度)のセミナーがあれば入社したての技術者としては十分と思う。
■日ごろの調査内容が適切か客観的に判断できた。
■調査専門家ならではの視点からの的を得た説明で、目からウロコでした。3技術を組み合わせ、1つのプロセスとして出願されたような場合での検索でモレを防ぐために、ノイズだらけの検索をしていたが、今回のセミナーでの経験を活かして効率よく検索したいと思います。
■特許検索のスピード向上、詳細な検索方法を知りたく参加しました。大変参考になりましたので、業務に活かしたいと思います。
■実際に事例問題に取り組んで困ったと思っていたこと(例えば、FI、FT選定の仕方やPMGSの活用法など)に対する答えを得ることができた。これは、今後の仕事に非常に役立つと考えます。
■J-PlatPatの検索項目が何を検索しているか、とてもよく理解できました。事例では、概念の分割と選択の着眼点、複数の面(KW、FI、FT)から調査する方法がとても参考になりました。
■事例問題によって、手順・活用方法が具体的で分かりやすかった。
■メルマガでの検索問題を解きながら技術を身につけたいと思う。